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三坐標測頭
光學測頭雖然有一些接觸式測頭無法提供的優(yōu)勢，但并無法完全替代接觸式測頭，蔡司zeiss三坐標，其原因在于光線的可觸及性不如接觸式測頭。測球的各個部位都可以去接觸被測物體來采點，但光的傳播是沿直線的，我們無法讓光“轉(zhuǎn)彎”，必然有一些特征讓光線力所不能及，比如徑深比很小的孔、或是需要l型測針的場合，接觸式測頭比光學測頭更方便。
沒有好的測頭，蔡司zeiss三坐標代理，究竟怎么選擇還是取決于測量需求。在繁多的測頭種類面前，應該不只是以預算為導向，也不一定要追求全能型的測頭，找到*合適的產(chǎn)品，才能既快又好地做好質(zhì)量控制。
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接觸式測頭與光學測頭
近年來流行著一些帶有誤導性的宣傳，導致部分用戶對光學測頭有過高的期待，例如“用光學測頭一掃，零件的所有尺寸都出來了”等等，這對光學測頭實際上存在很大的誤解。從目前的狀態(tài)來說，接觸式與光學測頭之間主要是相互補充的關(guān)系，蔡司zeiss三坐標價格，而非競爭。三維光學測頭有不同的分類，比如點光源、線光源、面光源，不同的測頭其應用場合有顯著區(qū)別。我們將光學測頭的應用大致分成兩類：表面數(shù)字化和三維測量。
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在傳統(tǒng)測量方法選擇上，人們主要依靠兩種測量手段完成對箱體類工件和復雜幾何形狀工件的測量，即：通過三坐標測量機執(zhí)行箱體類工件的檢測；通過測量設(shè)備，例如齒輪檢測儀、凸輪檢測設(shè)備等完成具有復雜幾何形狀工件的測量。因此對于從事生產(chǎn)復雜幾何形狀工件的企業(yè)來說，完成上述產(chǎn)品的質(zhì)量控制企業(yè)不僅需要配置通用測量設(shè)備，例如三坐標測量機，通用標準量具、量儀，蔡司zeiss三坐標授權(quán)代理，同時還需要配置檢測設(shè)備，例如各種尺寸類型的齒輪檢測儀器，凸輪檢測儀器等。
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